Семінар на тему “Особливості проведення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем”
28 березня 2014 року Державна служба інтелектуальної власності України спільно з Державним підприємством “Український інститут промислової власності” (ДП “УІПВ”) організовує семінар на тему “Особливості проведення експертизи заявок на винаходи, корисні моделі та топографії інтегральних мікросхем”.
Семінар відбудеться на безоплатній основі в актовому залі ДП “УІПВ” (м. Київ, вул. Глазунова, 1; початок – о 10:00, реєстрація учасників – з 9:30).
Для участі в семінарі необхідно до 27 березня 2014 року надіслати заповнену реєстраційну карту учасника (http://sips.gov.ua/i_upload/file/reestr-karta-2803201..) на електронну адресу V.Rysak@uipv.org або факсом +380 (44) 494 05 27.
Довідки за телефоном: +380 (044) 494 05 27.
Тематика доповідей семінару (http://sips.gov.ua/i_upload/file/tematyka-28032014-11..)